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RURasterelektronenmikroskopie in Keramik
Für die Rasterelektronenmikroskopie in Keramik gibt es insgesamt 189 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Rasterelektronenmikroskopie in Keramik die folgenden Kategorien: Keramik, Optische Ausrüstung, Optik und optische Messungen, analytische Chemie, Wortschatz, erziehen, Luftqualit?t, Kriminalpr?vention, Thermodynamik und Temperaturmessung, L?ngen- und Winkelmessungen, Elektronische Anzeigeger?te, Zutaten für die Farbe, Oberfl?chenbehandlung und Beschichtung, Baumaterial, Farben und Lacke, Stahlprodukte, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsger?te integriert, Physik Chemie, Textilfaser.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung
- JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
- JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
- JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
- JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
International Organization for Standardization (ISO), Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
- ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
- ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
- ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
- ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
- ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
- ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe
- ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
- ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberfl?chenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Tr?gerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
- ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgr??en- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
- ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
- ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
- ISO 14966:2002/cor 1:2007 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode; Technische Berichtigung 1
- ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberfl?chen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
- ISO 17751-2:2014 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
- ISO 17751-2:2023 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
- ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle, anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)
Professional Standard - Machinery, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
- JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops
中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
- KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
- KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
- KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
- KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
- KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
- KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
- KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
- KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
- KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
- KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
- KS K ISO 17751-2:2019 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
KR-KS, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
- KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
- KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgr??en- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
- KS K ISO 17751-2-2019 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
British Standards Institution (BSI), Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
- BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
- BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
- BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
- BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
- BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
- 18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
- BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgr??en- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
- BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgr??en- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
- BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
- 18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgr??en- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
- BS ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
- 18/30375050 DC BS ISO 14966. Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
- BS EN ISO 17751-2:2023 Textilien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
- DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanor?hren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver R?ntgenspektrometrieanalyse
- BS EN ISO 17751-2:2016 Textilien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
- BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanor?hren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver R?ntgenspektrometrieanalyse
- 12/30228339 DC BS ISO 16000-27. Innenluft. Teil 27. Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberfl?chen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
Professional Standard - Education, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
- JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie
American Society for Testing and Materials (ASTM), Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
- ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
- ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
- ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
- ASTM D605-82(1996)e1 Standardspezifikation für Magnesiumsilikatpigment (Talk)
- ASTM D6059-96(2011) Standardtestmethode zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie
- ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
- ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
- ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
- ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
- ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E2809-13 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/R?ntgenspektrometrie bei forensischen Farbuntersuchungen
- ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
- ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
- ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
- ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur gr??endifferenzierten Z?hlung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
- ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur gr??endifferenzierten Z?hlung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
- ASTM E2142-08(2015) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E2142-08 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E2142-08(2023) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
- ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
- ASTM E280-98(2004)e1 Standard-Referenzr?ntgenaufnahmen für dickwandige (4 &189; bis 12 Zoll [114 bis 305 mm]) Stahlgussteile
- ASTM E2809-22 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver R?ntgenspektroskopie (SEM/EDS) bei forensischen Polymeruntersuchungen
- ASTM E280-21 Standard-Referenzr?ntgenaufnahmen für dickwandige (412 bis 12 Zoll (114 bis 305 mm)) Stahlgussteile
- ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
- ASTM D6059-96(2001) Standardtestmethode zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie
- ASTM D6059-96 Standardtestmethode zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie
- ASTM D6059-96(2006) Standardtestmethode zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie
- ASTM E1588-95(2001) Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückst?nden mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
- ASTM E1588-08 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückst?nden mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver R?ntgenspektrometrie
- ASTM E1588-10 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückst?nden mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver R?ntgenspektrometrie
- ASTM E2142-01 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E1588-95 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückst?nden mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
- ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
- ASTM B748-90(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
- ASTM F1372-93(1999) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberfl?chenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
- ASTM E1588-20 Standardpraxis für die Analyse von Schussrückst?nden mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver R?ntgenspektrometrie
- ASTM F1372-93(2020) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberfl?chenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
- ASTM E1588-07 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückst?nden mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver R?ntgenspektrometrie
- ASTM F1372-93(2012) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberfl?chenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
- ASTM E1588-07e1 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückst?nden mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver R?ntgenspektrometrie
- ASTM F1372-93(2005) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberfl?chenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
- ASTM D6056-96(2011) Standardtestverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Transmissionselektronenmikroskopie
American National Standards Institute （ANSI), Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- ANSI/ASTM D6059:2001 Testverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie
- ANSI/ASTM D6056:2001 Testverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Transmissionselektronenmikroskopie
Professional Standard - Petroleum, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
- SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
- SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
國家能源局, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben
Association Francaise de Normalisation, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung.
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe
- XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe
- NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
- NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgr??en- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
- NF T25-111-4:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 4: Fraktographie mittels Rasterelektronenmikroskop
- NF EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgr??en- und Formverteilung mittels Rasterelektronenmikroskopie
- NF ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von auf Oberfl?chen abgelagertem Faserstaub mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
- FD T16-203:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanor?hren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver R?ntgenspektrometrieanalyse
- NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberfl?chen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
- NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
Professional Standard - Judicatory, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/R?ntgenenergiespektrometrie
Group Standards of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfger?t
- T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgr??e von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikrofl?chenbedeckung von Graphenfilmen
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erd?l- und Gaslagerst?tten mittels Rasterelektronenmikroskop
- GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
- GB/T 17361-2013 Mikrostrahlanalyse. Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels Rasterelektronenmikroskop und energiedispersivem Spektrometer
- GB/T 28873-2012 Allgemeiner Leitfaden zur Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie für biologische Effekte auf die Topographie, die durch Nanopartikel hervorgerufen werden
- GB/Z 26083-2010 Bestimmung von Kupfer(Ⅱ)-octaakoxyl-substituiertem Phthalocyanin auf Graphitoberfl?che (Rastertunnelmikroskop)
- GB/T 19267.6-2008 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik. Teil 6: Rasterelektronenmikroskop/R?ntgenenergiedispersive Spektrometrie
- GB/T 17361-1998 Methode zur Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels SEM und XEDS
SE-SIS, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
- SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips
European Committee for Standardization (CEN), Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
- EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
- EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgr??en- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
- prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
RU-GOST R, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gew?hrleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
- GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gew?hrleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
- GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gew?hrleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur überprüfung
- GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gew?hrleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur überprüfung
- GOST ISO 16000-27-2017 Innenluft. Teil 27. Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberfl?chen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
Danish Standards Foundation, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
- DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgr??en- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
- DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanor?hren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver R?ntgenspektrometrieanalyse
German Institute for Standardization, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
- DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
- DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
- DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgr??en- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
- DIN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:1988); Deutsche Fassung EN ISO 9220:1994
- DIN ISO 16000-27:2014-11 Raumluft – Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberfl?chen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode) (ISO 16000-27:2014)
- DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Verfahren (ISO 17751-2:2016); Deutsche Fassung EN ISO 17751-2:2016 / Hinweis: Wird durch DIN EN ISO 17751-2 (2022-09) ersetzt.
- DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Verfahren (ISO/DIS 17751-2:2022); Deutsche und englische Version prEN ISO 17751-2:2022 / Hinweis: Ausgabedatum 19.08.2022*I...
ES-UNE, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
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- UNE-EN ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode (ISO 17751-2:2016)
U.S. Military Regulations and Norms, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
Professional Standard - Public Safety Standards, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/R?ntgenspektroskopie
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- GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/R?ntgenspektroskopie
- GA/T 1522-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung von Schie?rückst?nden, Rasterelektronenmikroskopie/R?ntgenspektroskopie
- GA/T 909-2010 Sammel- und Verpackungsmethode für Spurenspuren – Schussrückst?nde (SEM/EDS-Untersuchung)
- GA/T 1521-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung der Elementarzusammensetzung von Kunststoffen, Rasterelektronenmikroskopie/R?ntgenspektroskopie
- GA/T 1519-2018 Forensische Wissenschaft Prüfung der Tonerelementzusammensetzung Rasterelektronenmikroskopie/R?ntgenspektroskopie
- GA/T 1520-2018 Forensische Wissenschaft Schwarzpulver, pyrotechnische Pulverelementzusammensetzungsprüfung Rasterelektronenmikroskop/R?ntgenenergiespektrometrie
- GA/T 823.3-2018 Methoden zur Untersuchung von Farbspuren in der Forensik Teil 3: Rasterelektronenmikroskopie/R?ntgenspektroskopie
AENOR, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).
Lithuanian Standards Office , Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)
AT-ON, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
BE-NBN, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)
Association of German Mechanical Engineers, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus station?ren Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
- VDI 3492-2004 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
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未注明發(fā)布機構, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- BS CECC 13:1985(1999) Harmonisiertes System zur Qualit?tsbewertung elektronischer Komponenten: Grundspezifikation: Rasterelektronenmikroskop-Inspektion von Halbleiterchips
- DIN ISO 16000-27 E:2012-12 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberfl?chen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
Professional Standard - Commodity Inspection, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- SN/T 2649.1-2010 Bestimmung von Asbest in Kosmetika für den Import und Export. Teil 1: R?ntgenbeugungs- und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
GOSTR, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- PNST 508-2020 Nanotechnologien. Einwandige Kohlenstoffnanor?hren. Charakterisierung mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver R?ntgenspektrometrie
BELST, Rasterelektronenmikroskopie in Keramik
- STB 2210-2011 Nanogro?e Kohlenstoff- und Nicht-Kohlenstoffmaterialien und darauf basierende Verbundwerkstoffe. Verfahren zur Bestimmung von Parametern mittels Rasterelektronenmikroskopie-Messungen