掃描電子顯微鏡在陶瓷

本專題涉及掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)有111條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，掃描電子顯微鏡在陶瓷涉及到陶瓷、光學(xué)設(shè)備、分析化學(xué)、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、詞匯、建筑材料、教育、空氣質(zhì)量、有色金屬、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、犯罪行為防范、熱力學(xué)和溫度測(cè)量、涂料配料、表面處理和鍍涂、電子顯示器件。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，掃描電子顯微鏡在陶瓷涉及到特種陶瓷、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電磁計(jì)量、技術(shù)管理、檢驗(yàn)專用設(shè)備、教學(xué)專用儀器、化學(xué)計(jì)量、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、記錄儀器及光線示波器、光學(xué)設(shè)備、教育、學(xué)位、學(xué)銜、石油地質(zhì)勘探、石油勘探、開發(fā)與集輸工程綜合、放大鏡與顯微鏡、、犯罪鑒定技術(shù)、工業(yè)防塵防毒技術(shù)、材料防護(hù)、油頁(yè)巖、物理學(xué)與力學(xué)、混凝土、集料、灰漿、砂漿。

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

JIS R 1633:1998 掃描電子顯微鏡觀察用精細(xì)陶瓷和陶瓷粉末的樣品制備方法
JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測(cè)定.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
JIS K 3850-1:2000 空氣中纖維粒子的測(cè)量方法.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
JIS K 0149-1:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡法.校準(zhǔn)圖像放大指南

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測(cè)量用掃描電子顯微鏡的鑒定
ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
ISO 16700:2016 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
ISO 9220:1988 金屬覆蓋層鍍層厚度測(cè)量掃描電子顯微鏡法
ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
ISO 22493:2014 微束分析. 掃描電子顯微術(shù). 詞匯
ISO 21466:2019 微束分析.掃描電子顯微鏡.用CD-SEM評(píng)定臨界尺寸的方法
ISO/TS 24597:2011 微光束分析.掃描電子顯微鏡檢查法.圖像清晰度評(píng)價(jià)法

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 33834-2017 微束分析掃描電子顯微術(shù) 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法

國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范
JJF 1351-2012 掃描探針顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范

國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程
JJG 550-1988 掃描電子顯微鏡試行檢定規(guī)程

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗(yàn)方法
JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術(shù)條件

SCC，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 22493:2008 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
06/30128226 DC ISO 22493 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學(xué)分析掃描探針顯微鏡掃描擴(kuò)散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
AWWA ACE56156 使用平板掃描儀和掃描電子顯微鏡評(píng)估膜表面污染模式
VDI 3866 BLATT 5-2017 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測(cè)定掃描電子顯微鏡法
DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層涂層厚度測(cè)量掃描電子顯微鏡法
BS EN ISO 9220:1995 金屬涂層涂層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
DANSK DS/EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量掃描電子顯微鏡法
08/30138435 DC BS ISO 24597 微束分析掃描電子顯微鏡圖像清晰度評(píng)估方法

韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術(shù)語
KS I 0051-1999 掃描電子顯微鏡試驗(yàn)方法通則
KS D 2714-2016(2021) 掃描探針顯微鏡－側(cè)向力顯微鏡法
KS D 2714-2016 橫向力顯微鏡掃描探針顯微鏡方法
KS D 2714-2021 掃描探針顯微鏡側(cè)向力顯微鏡方法
KS D ISO 16700:2013 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
KS D ISO 16700-2013(2018) 微束分析－掃描電子顯微鏡－圖像放大率校準(zhǔn)指南
KS D ISO 16700-2023 微束分析掃描電子顯微鏡圖像放大率校準(zhǔn)指南
KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
KS D ISO 9220-2022 金屬涂層涂層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法

GSO，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

BH GSO ISO 22493:2017 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
GSO ISO 22493:2015 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
GSO ISO 25498:2015 微束分析分析掃描電子顯微鏡使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
GSO ISO/TS 24597:2013 微束分析掃描電子顯微鏡圖像清晰度評(píng)價(jià)方法
GSO ISO 9220:2013 金屬涂層涂層厚度測(cè)量掃描電子顯微鏡法
OS GSO ISO/TS 24597:2013 微束分析掃描電子顯微鏡評(píng)估圖像清晰度的方法

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析掃描電子顯微鏡用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標(biāo)記圖像文件格式
BS ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準(zhǔn)指南
BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
BS ISO 21466:2019 微束分析掃描電子顯微鏡 CDSEM評(píng)估關(guān)鍵尺寸的方法
BS ISO 16700:2016 微束分析掃描電子顯微鏡校準(zhǔn)圖像放大率的指南
BS EN ISO 9220:2022 金屬涂層涂層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
BS ISO 22493:2014 微束分析. 掃描電子顯微術(shù). 詞匯

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則

美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

ANSI/ASTM D6059:2001 用掃描電子顯微鏡測(cè)定工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E766-98(2003) 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
ASTM E766-98 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關(guān)人工標(biāo)準(zhǔn)指南
ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的指南
ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的標(biāo)準(zhǔn)指南
ASTM D605-82(1996)e1 用電子顯微鏡掃描測(cè)定工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM D6059-96(2011) 用電子顯微鏡掃描測(cè)定工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM E986-04(2010) 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)方法
ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
ASTM E986-04 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
ASTM E986-04(2024) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
ASTM E766-98(2008)e1 掃描電子顯微鏡的放大系數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)校正規(guī)范
ASTM C1723-10 用掃描電子顯微鏡檢驗(yàn)硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
ASTM C1723-16(2022) 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
ASTM C1723-16 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南

上海市標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)方法

國(guó)家能源局，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

SY/T 5162-2021 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-石油，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

SY 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
SY/T 5162-1997 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
SY/T 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

NF X21-005:2006 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 - 掃描電子顯微鏡 - 評(píng)估圖像清晰度的方法
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 微束分析掃描電子顯微鏡評(píng)價(jià)圖像清晰度的方法
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
NF EN ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
NF X21-010:2009 微光束分析.掃描電子顯微術(shù).詞匯

中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

T/SPSTS 032-2023 掃描電化學(xué)顯微鏡通用規(guī)范
T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學(xué)測(cè)試裝置
T/SPSTS 030-2023 石墨烯材料片徑尺寸測(cè)量掃描電子顯微鏡法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

SN/T 4388-2015 皮革鑒定掃描電鏡和光學(xué)顯微鏡法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-司法，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

SF/T 0139-2023 泥土檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

江蘇省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

DB32/T 3459-2018 石墨烯薄膜微區(qū)覆蓋度測(cè)試掃描電子顯微鏡法

VDI - Verein Deutscher Ingenieure，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

VDI 3866 BLATT 5-2015 技術(shù)產(chǎn)品中石棉的測(cè)定掃描電子顯微鏡法
VDI 3866 Blatt 5-2003 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測(cè)定掃描電子顯微鏡法

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 18295-2001 油氣儲(chǔ)層砂巖樣品掃描電子顯微鏡分析方法
GB/T 23414-2009 微束分析.掃描電子顯微術(shù).術(shù)語

SE-SIS，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

SIS SS-ISO 9220:1989 金屬涂層．涂層厚度測(cè)量．掃描電子顯微鏡方法
SIS SS CECC 00013-1985 基本規(guī)范．半導(dǎo)體芯片的掃描電子顯微鏡觀察

RU-GOST R，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

GOST R 8.594-2009 確保測(cè)量一致性的國(guó)家體系.掃描電子顯微鏡

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬涂層-涂層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法

(美國(guó))軍事條例和規(guī)范，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

ARMY MIL-HDBK-790 CHG NOTICE 2-1993 金屬斷面的顯微鏡觀察和在先進(jìn)建筑陶瓷中的斷裂源描述

西班牙標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于掃描電子顯微鏡在陶瓷的標(biāo)準(zhǔn)

UNE-EN ISO 9220:2022 金屬涂層涂層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡方法

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