GB/T 5170.17-2005
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products Combined sequential cold low air pressure and damp heat testing equipments
GBT5170.17-2005, GB5170.17-2005
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- GB/T 5170.17-2005
- 別名
- GBT5170.17-2005, GB5170.17-2005
- 發(fā)布
- 2005年
- 總頁數(shù)
- 12頁
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 5170.17-2005
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 2423.27-2005 GB/T 5170.1-1995 GB/T 6999
- 被代替標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 5170.17-1987
- 適用范圍
- 本部分規(guī)定了低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點(diǎn)數(shù)量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。 本部分適用于對GB/T 2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。 本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。
專題
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