GB/T 5170.17-2005
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備

Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products Combined sequential cold low air pressure and damp heat testing equipments

GBT5170.17-2005, GB5170.17-2005

GB/T 5170.17-2005 發(fā)布?xì)v史

GB/T 5170.17-2005由國(guó)家質(zhì)檢總局 CN-GB 發(fā)布于 2005-08-26，并于 2006-04-01 實(shí)施。

GB/T 5170.17-2005 在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: K04 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)和通用方法，在國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: 19.040 環(huán)境試驗(yàn)。

GB/T 5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備的最新版本是哪一版？

最新版本是 GB/T 5170.17-2005 。

GB/T 5170.17-2005 發(fā)布之時(shí)，引用了標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 2423.27-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)
• GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則
• GB/T 6999 環(huán)境試驗(yàn)用相對(duì)濕度查算表*， 2010-11-10 更新

* 在 GB/T 5170.17-2005 發(fā)布之后有更新，請(qǐng)注意新發(fā)布標(biāo)準(zhǔn)的變化。

GB/T 5170.17-2005的歷代版本如下：

• 2005年 GB/T 5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
• 1987年 GB/T 5170.17-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備

本部分規(guī)定了低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。 本部分適用于對(duì)GB/T 2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。 本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

GB/T 5170.17-2005

別名

GBT5170.17-2005
GB5170.17-2005

發(fā)布

2005年

發(fā)布單位

國(guó)家質(zhì)檢總局

當(dāng)前最新

GB/T 5170.17-2005

 

 

引用標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.27-2005 GB/T 5170.1-1995 GB/T 6999

被代替標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 5170.17-1987

專題

GB/T 5170.17-2005相似標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 5170.17-2005系列標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 5170.17-2005 中可能用到的儀器設(shè)備