IEC 60793-1-34:2006
光學(xué)纖維.第1-34:部分:測(cè)量方法和試驗(yàn)程序.纖維卷曲

Optical fibres - Part 1-34: Measurement methods and test procedures - Fibre curl

被代替

適用范圍: IEC 60793 的這一部分規(guī)定了機(jī)械特性的統(tǒng)一要求：未涂層光纖的光纖卷曲或潛在曲率。當(dāng)使用無(wú)源對(duì)準(zhǔn)熔接機(jī)或主動(dòng)對(duì)準(zhǔn)質(zhì)量熔接機(jī)時(shí)，光纖卷曲已被確定為最小化光纖熔接損耗的重要參數(shù)。有兩種方法可用于測(cè)量未涂覆光纖中的光纖卷曲： ? 方法 A：側(cè)視顯微鏡； ? 方法B：激光束散射。這兩種方法都是通過(guò)確定無(wú)支撐光纖端部繞光纖軸旋轉(zhuǎn)時(shí)發(fā)生的偏轉(zhuǎn)量來(lái)測(cè)量無(wú)涂層光纖的曲率半徑。方法 A 使用視覺(jué)或數(shù)字視頻方法來(lái)確定光纖的偏轉(zhuǎn)，而方法 B 使用線傳感器來(lái)測(cè)量一束激光束相對(duì)于參考激光束的最大偏轉(zhuǎn)。通過(guò)測(cè)量光纖繞其軸旋轉(zhuǎn)時(shí)的偏轉(zhuǎn)行為并了解測(cè)量裝置的幾何形狀，可以從簡(jiǎn)單的圓形模型計(jì)算光纖的曲率半徑，附件 C 中給出了其推導(dǎo)過(guò)程。這兩種方法均適用適用于 IEC 60793 系列中所述的 A1、A2、A3 和 B 型光纖。方法A為參考測(cè)試方法，用于解決爭(zhēng)議。