IEC 60793 的這一部分對(duì)未涂層光纖的機(jī)械特性光纖卷曲或潛在曲率制定了統(tǒng)一要求。當(dāng)使用無源對(duì)準(zhǔn)熔接機(jī)或主動(dòng)對(duì)準(zhǔn)質(zhì)量熔接機(jī)時(shí)，光纖卷曲已被確定為最小化光纖熔接損耗的重要參數(shù)。附錄 A 和 B 中分別提出了兩種方法，可用于測量未涂覆光纖中的光纖卷曲： · 方法 A：側(cè)視顯微鏡； ·方法B：激光束散射。側(cè)視顯微鏡程序通過確定無支撐光纖端部繞光纖軸旋轉(zhuǎn)時(shí)發(fā)生的偏轉(zhuǎn)量來測量未涂覆光纖的曲率半徑。激光束散射程序通過激光束散射來測量光纖中的光纖卷曲。通過了解光纖的最大偏轉(zhuǎn)和從光纖夾具到測量點(diǎn)的懸伸距離，可以從簡單的圓形模型計(jì)算光纖的曲率半徑，其推導(dǎo)在附錄 C 中給出。兩種方法都適用于A1、A2、A3 和 B 型光纖。方法A為參考測試方法，用于解決爭議。