NF ISO 23830:2009
表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 二次離子靜態(tài)質(zhì)譜中相對(duì)強(qiáng)度標(biāo)度的重復(fù)性和穩(wěn)定性

Chemical analysis of surfaces - Mass spectrometry of secondary ions - Repeatability and constancy of the scale of relative intensities in static mass spectrometry of secondary ions

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

NF ISO 23830:2009

發(fā)布

2009年

發(fā)布單位

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)

當(dāng)前最新

NF ISO 23830:2009

 

 

專(zhuān)題

NF ISO 23830:2009相似標(biāo)準(zhǔn)

NF ISO 23830:2009 中可能用到的儀器設(shè)備