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表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?は全部で 109 項標準に関連している。

表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか? 國際標準分類において、これらの分類：放射線測定、 放射線防護、 原子力工學、 長さと角度の測定、 ガラス、 環(huán)境を守ること、 航空宇宙システムおよび操作裝置、 分析化學、 空気の質(zhì)、 表面処理?メッキ、 建物の構(gòu)造、 航空宇宙用の流體システムおよびコンポーネント、 化學製品、 繊維副資材、 土壌品質(zhì)、土壌科學。

HU-MSZT, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• MSZ MI 19391/2-1980 表面放射線型汚染の検査、トリチウム汚染の測定

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• KS A 4441-2001 放射性表面汚染測定器
• KS A 4916-1994(2009) 表面汚染モニター校正用の基準源
• KS A ISO 7503-1:2021 放射性表面汚染の測定と評価 第 1 部: 一般原則
• KS A ISO 7503-3:2021 放射性測定面の汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正
• KS A ISO 7503-2:2021 放射性測定面の汚染の測定と評価 第 2 部：拭き取り試験片の試験方法
• KS A ISO 8769:2013 表面汚染モニター校正用の基準線源 ベータ線エミッター (0.15 MeV を超える最大ベータ線エネルギー) およびアルファ線エミッター
• KS A ISO 8769:2002 表面汚染モニター校正用の基準線源 ベータ線エミッター (0.15 MeV を超える最大ベータ線エネルギー) およびアルファ線エミッター
• KS A ISO 8769-2-2003(2018) 表面汚染モニターの補正のための標準スタッフ - パート 2: 0.15 MeV 未満の電子エネルギーと 1.5 MeV 未満の光子エネルギー
• KS A ISO 8769-2:2003 表面汚染モニターの校正用の基準源 パート 2: エネルギーが 0.15 MeV 未満の電子およびエネルギーが 1.5 MeV 未満の光子
• KS A ISO 8769:2016 表面汚染モニター校正用の基準線源ベータ線エミッタ (0 15 MeV を超える最大ベータ線エネルギー) およびアルファ線エミッタ
• KS A IEC 61137:2003 放射線防護検出裝置 個人の表面汚染監(jiān)視裝置の設(shè)置 地質(zhì)エネルギーの X 線およびガンマ線放射裝置

(U.S.) Ford Automotive Standards, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• FORD FLTM BZ 002-3-2001 冷間圧延鋼材表面の炭素汚染の測定
• FORD FLTM BZ 002-03-2001 冷間圧延鋼材表面の炭素汚染の測定

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• IPC TM-650 2.3.25B-1997 イオン化可能な表面汚染物質(zhì)の検出と測定
• IPC TM-650 2.3.25C-2001 溶媒抽出物の抵抗率によるイオン化可能な表面汚染物質(zhì)の検出と測定 (ROSE)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• JIS Z 4329:1993 ポータブル放射性表面汚染計
• JIS Z 4329:2004 ポータブル放射性表面汚染線量計およびモニター
• JIS Z 4337:2011 ベータ線エミッター用設(shè)置物用表面汚染モニタリングキット
• JIS Z 4504-1:2023 放射性物質(zhì)の測定 表面汚染の測定と評価 第 1 部：一般原則
• JIS Z 4504-3:2023 放射性測定面の汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正
• JIS Z 4504-2:2023 放射能測定における表面汚染の測定と評価 第2部：拭き取り試験片を用いた試験方法
• JIS K 0148:2005 表面化學分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用した、シリコン ウェーハ上の主な表面汚染物質(zhì)の測定。
• JIS Z 4337:1997 ベータ線放射體のデバイス表面の放射性汚染を監(jiān)視するための設(shè)置アセンブリ
• JIS Z 4338:1997 ベータ線放出者による従業(yè)員の體表面の放射性汚染を監(jiān)視するための設(shè)置キット
• JIS Z 4334:2005 表面汚染モニター校正用の基準線源 ベータ線エミッタ (0.15 MeV を超える最大ベータ線エネルギー) およびアルファ線エミッタ
• JIS Z 4338:2006 アルファおよび/またはベータエミッター手足モニターおよび個人の體表面放射性汚染モニター

Professional Standard - Nuclear Industry, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• EJ/T 20031-2012 放射性植物の表面汚染の測定方法

British Standards Institution (BSI), 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• BS ISO 7503-1:2016 放射能の測定 表面汚染の測定と評価 一般原則
• BS ISO 7503-3:2016 放射能の測定 表面汚染の測定と評価 機器の校正
• BS ISO 7503-2:2016 放射能の測定 表面汚染の測定と評価 拭き取り試験片を用いた試験方法
• BS EN 16602-70-05:2014 航空宇宙製品保証: 赤外分光法を使用した有機汚染表面の検出
• BS ISO 14706:2000 表面化學分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコン ウェーハ表面の元素汚染物質(zhì)の測定
• BS ISO 14706:2014 表面化學分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコン ウェーハ表面の元素汚染物質(zhì)の測定
• BS ISO 14706:2001 表面化學分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコン ウェーハ表面の元素汚染物質(zhì)の測定
• BS EN ISO 8769:2022 放射能測定 アルファ、ベータ、およびフォトンを放出する放射性核種表面汚染モニターの校正のための基準測定の標準仕様
• BS ISO 22581:2021 表面化學分析 X 線光電子分光法測定スキャンからのほぼリアルタイムの情報 炭素質(zhì)化合物の表面汚染の特定と修正ルール
• BS ISO 14952-3:2004 航空宇宙システム 液體システムの表面清浄度 不揮発性殘留物および粒子狀汚染物質(zhì)を測定するための分析手順

American National Standards Institute （ANSI), 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• ANSI N14.36-2013 梱包および輸送時の放射線レベルおよび表面汚染の測定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• GB/T 8997-2008 アルファおよびベータ表面汚染測定器およびモニターの校正
• GB 5202-1985 アルファ、ベータ、アルファベータ表面汚染計およびモニター
• GB/T 24368-2009 ガラス表面の疎水性汚染物質(zhì)の検出 接觸角測定法
• GB/T 29788-2013 放射線防護裝置 ポータブル表面汚染光子測定およびモニター
• GB/T 14056-1993 表面汚染の判定パート 1: ベータ線エミッター (0.15 MeV を超える最大ベータ線エネルギー) とアルファ線エミッター
• GB/T 12128.2-1999 表面汚染モニターを校正するための基準線源パート 2: 0.15 MeV 未満のエネルギーを持つ電子と 1.5 MeV 未満のエネルギーを持つ光子

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• JJG 2041-1989 アルファおよびベータ表面汚染を測定するための測定器校正システム

American Society for Testing and Materials (ASTM), 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• ASTM F24-09(2015) 表面粒子汚染を測定およびカウントするための標準的な試験方法
• ASTM F24-20 表面粒子汚染を測定およびカウントするための標準的な試験方法
• ASTM F24-00 表面微粒子汚染の測定および計數(shù)のための標準的な方法
• ASTM F24-09 表面の粒子汚染を測定およびカウントするための標準的な方法
• ASTM C813-90(1999) 接觸角測定によりガラス表面上の疎水性汚染物質(zhì)の量を測定する標準的な試験方法
• ASTM E2101-15(2020) 平均型點測定加速度計を使用して冬季に汚染された舗裝表面の摩擦特性を測定する標準的な試験方法。
• ASTM C813-90(2014) 接觸角測定を使用したガラス表面の疎水性汚染物質(zhì)の検出のための標準的な試験方法
• ASTM E3208-20 移動表面汚染物質(zhì)の分類および測定機器の最小要件に関する標準仕様
• ASTM C813-90(2004) 接觸角測定によりガラス表面上の疎水性汚れの量を測定するための標準的な試験方法
• ASTM C813-90(2009) 接觸角測定によりガラス表面上の疎水性汚れの量を測定するための標準的な試験方法
• ASTM E2101-00 平均型スポット測定減速度計を使用して冬季の汚染路面の摩擦特性を測定する標準的な試験方法。
• ASTM E2101-00(2005) 平均型スポット測定減速度計を使用して冬季の汚染路面の摩擦特性を測定する標準的な試験方法。
• ASTM E2101-15 平均型スポット測定減速度計を使用して冬季の汚染路面の摩擦特性を測定する標準的な試験方法。
• ASTM E2101-14 平均典型現(xiàn)場測定レデューサーを使用した冬季の汚染舗裝の摩擦特性を測定するための標準試験方法

Association Francaise de Normalisation, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• NF M60-704*NF ISO 9271:1992 放射能で汚染された表面の除染 繊維製品に使用する洗剤のテスト
• NF M60-703*NF ISO 7503-3:2017 放射性測定面の汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正
• NF M60-701*NF ISO 7503-1:2017 放射性測定面の汚染の測定と評価 第 1 部: 一般原則
• NF ISO 7503-1:2017 放射性測定 - 表面汚染の測定と評価 - パート 1: 一般原則
• NF ISO 7503-3:2017 放射性物質(zhì)の測定 表面汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正
• NF M60-702*NF ISO 7503-2:2017 放射性測定面の汚染の測定と評価 第2部：拭き取り試験片を用いた試験方法
• NF ISO 7503-2:2017 放射能測定。 表面汚染の測定と評価。 パート 2: 拭き取り試験片を使用した試験方法
• NF EN 61098:2008 放射線防護裝置 - 作業(yè)員の表面汚染を監(jiān)視するための固定コンポーネント
• NF M60-517:1988 表面汚染モニター校正用の標準線源 β (最大 β エネルギーは 0.15 MeV を超える) および α 放射線源
• NF EN ISO 8769:2022 放射能測定。 アルファ、ベータ、光子を放出する放射性核種。 表面汚染モニター校正用の參考標準仕様書
• NF M60-517-2:1998 表面汚染モニターの校正用の基準放射線源 パート 2: 0.15 MEV 未満のエネルギーを持つ電子と 1.5 MEV 未満のエネルギーを持つ光子
• NF X43-016:1977 連続サンプリング自動シーケンス分析裝置による酸性ガス汚染指數(shù)（SO2換算値で表す）の検出方法
• NF X31-611-2:1999 土壌の品質(zhì) 汚染の特性評価と検出方法 パート 2: 陸上スクリーニングにおける地球物理學的手法の使用に関する一般的なガイダンス

International Organization for Standardization (ISO), 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• ISO 7503-1:2016 放射性物質(zhì)の測定 表面汚染の測定と評価 パート 1: 一般原則
• ISO 7503-3:2016 放射性物質(zhì)の測定 表面汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正
• ISO 7503-2:2016 放射能測定 表面汚染の測定と評価 第 2 部：拭き取り試験片を用いた試験方法
• ISO 14706:2000 表面化學分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
• ISO 14706:2014 表面化學分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
• ISO 8769:2020 放射性アルファ、ベータおよび光子放出放射性核種の測定 表面汚染モニターの校正のための基準測定の標準仕様
• ISO 8769:1988 表面汚染モニターを校正するための基準線源 ベータ線エミッタ (0.15 MeV を超える最大ベータ線エネルギー) およびアルファ線エミッタ
• ISO 22581:2021 表面化學分析 X 線光電子分光法による測定とスキャン ほぼリアルタイムの情報 炭素質(zhì)化合物の表面汚染の特定と修正ルール
• ISO 8769-2:1996 表面汚染モニターを校正するための基準源 パート 2: エネルギーが 0.15 MeV 未満の電子とエネルギーが 1.5 MeV 未満の光子

RU-GOST R, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• GOST 8.041-1984 ГСИ. ベータ放射性物質(zhì)による表面汚染を測定するための放射計 試験方法
• GOST 8.040-1984 ГСИ. ベータ放射性物質(zhì)による表面汚染を測定するための放射計、校正方法とツール

KR-KS, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• KS A ISO 7503-3-2021 放射性測定面の汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正
• KS A ISO 7503-1-2021 放射性表面汚染の測定と評価 第 1 部: 一般原則
• KS A ISO 7503-2-2021 放射性測定面の汚染の測定と評価 第 2 部：拭き取り試験片の試験方法
• KS A ISO 8769-2-2003(2023) 表面汚染モニターの校正用のベースライン線源 - パート 2: 0.15 MeV 未満の電子エネルギーと 1.5 MeV 未満の光子エネルギー

未注明發(fā)布機構(gòu), 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• BS ISO 7503-1:2016(2018) 放射性表面汚染の測定と評価 第 1 部: 一般原則
• BS ISO 7503-3:2016(2018) 放射性測定面の汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正
• BS ISO 8769:2020 アルファ、ベータおよび光子放出放射性核種の放射性測定用の表面汚染モニターの校正のための基準測定の標準仕様

German Institute for Standardization, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• DIN ISO 7503-1:2017 放射性測定 表面汚染の測定と評価 パート 1: 一般原則 (ISO 7503-1-2016)
• DIN V 44801-10:1998 アルファ線、ガンマ線、ベータ線の表面汚染測定器およびモニター パート 10: アルファ線およびベータ線の設(shè)置者による汚染モニター
• DIN ISO 7503-2:2017 放射能測定 表面汚染の測定と評価 パート 2: 拭き取った試験片を使用した試験方法 (ISO 7503-2-2016)
• DIN 25700:2023-03 放射線防護措置を必要とする特殊な場合における車両およびその積載物の表面汚染の測定
• DIN 25700:1995 異常時の放射線防護措置が必要な車両およびその積載物の表面汚染の測定
• DIN EN 16602-70-05:2015 航空宇宙製品保証: 赤外分光法を使用した有機的に汚染された表面の検出; 英語版 EN 16602-70-05-2014
• DIN-Fachbericht 28:2002 鋼構(gòu)造物を腐食から保護するために保護塗裝システムを使用する 汚染物質(zhì)を目視で検出できない塗料表面の使用前テスト
• DIN 54289-2:1981 界面活性剤および繊維助剤のテスト ポリエステル繊維を分散染料で染色する場合の染料キャリア効果のテスト 達成可能な色の収量の決定

European Committee for Standardization (CEN), 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• EN 16602-70-05:2014 航空製品の品質(zhì)保証 赤外分光法を使用した有機汚染表面の検出

Association of German Mechanical Engineers, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• VDI 3877 Blatt 2-2014 測定サンプリング戦略と結(jié)果 室內(nèi)汚染に対する表面付著繊維粉塵の評価
• VDI 3877 Blatt 1-2011 室內(nèi)大気汚染測定サンプリングと表面に付著した繊維粉塵の分析（REM/EDXA）

ES-UNE, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• UNE-EN ISO 8769:2022 アルファ、ベータおよび光子放出放射性核種の放射性測定用の表面汚染モニターの校正のための基準測定の標準仕様

CZ-CSN, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• CSN 35 6566-1988 アルファ、ベータおよびアルファ-ベータ放射性核種放出表面汚染測定裝置。 分類、一般的な技術(shù)要件と試験方法
• CSN ISO 8769:1994 土壌汚染モニター校正用の基準線源β。 エミッター (0.15 MeV を超える最大エネルギー) と α。 ランチャー

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• ESDU 10004-2013 乾燥または汚染された滑走路表面で飛行する地上試験航空機の実例 ESDU 05011 の適用
• ESDU 10004 B-2015 乾燥または汚染された滑走路表面で飛行する地上試験航空機の実例 ESDU 05011 の適用
• ESDU 10004 A-2013 乾燥または汚染された滑走路表面で飛行する地上試験航空機の実例 ESDU 05011 の適用

IT-UNI, 表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?

• UNI 7158-1972 プラスチック材料で作られた表面または塗裝された製品で覆われた表面からの放射性汚染除去指標の決定

その他：   表面の汚染を測定するにはどうすればよいですか?, 面寸法の測り方.