ISO/TS 21383:2021
微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測(cè)量用掃描電子顯微鏡的鑒定
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- ISO/TS 21383:2021
- 發(fā)布
- 2021年
- 總頁(yè)數(shù)
- 66頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織
- 當(dāng)前最新
- ISO/TS 21383:2021
其他標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17722-1999 金屬蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法
GB/T 20307-2006 納米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
BS ISO 23833:2013 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯
GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測(cè)量 掃描電鏡法
GB/T 36422-2018 化學(xué)纖維 微觀形貌及直徑的測(cè)定 掃描電鏡法
ISO 19463:2018 微光束分析.電子探針顯微分析儀（EPMA）.執(zhí)行質(zhì)量保證程序的指南
ISO 16700:2016 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
ASTM E986-04(2024) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
ASTM E1261-00 輻射加工中劑量測(cè)量系統(tǒng)的選擇與校準(zhǔn)指南
JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
專題
ISO/TS 21383:2021相似標(biāo)準(zhǔn)
ISO/TS 21383:2021 中可能用到的儀器設(shè)備
FIB-SEM雙束聚焦掃描電鏡
生物顯微鏡
超分辨率顯微鏡
激光共聚焦顯微鏡
掃描電鏡SEM
液質(zhì)聯(lián)用儀
視頻顯微鏡
工業(yè)顯微鏡/工具顯微鏡
透射電鏡TEM
其它光學(xué)測(cè)量?jī)x
數(shù)碼顯微鏡
掃描探針/原子力顯微鏡SPM/AFM
原位樣品桿/臺(tái)
電化學(xué)工作站
熒光顯微鏡
顯微圖像分析系統(tǒng)
電鏡附件及外設(shè)
電鏡制樣設(shè)備
切割機(jī)
電熱板
數(shù)字切片掃描儀
分子互作分析儀
VOC檢測(cè)儀/TVOC監(jiān)測(cè)儀
其他包裝業(yè)專用
半導(dǎo)體專用檢測(cè)儀器設(shè)備