KS D ISO 22493:2012
微光束分析.掃描電子顯微鏡.術(shù)語

Microbeam analysis－Scanning electron microscopy－Vocabulary

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

KS D ISO 22493:2012

發(fā)布

2012年

發(fā)布單位

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局

替代標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 22493-2012(2017)

當(dāng)前最新

KS D ISO 22493:2022

 

 

適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)定義了掃描電子顯微鏡 (SEM) 分析中使用的術(shù)語。該標(biāo)準(zhǔn)是一個(gè)系統(tǒng)的

專題

KS D ISO 22493:2012相似標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 22493:2012 中可能用到的儀器設(shè)備