EJ/T 20031-2012
放射性廠房表面污染測量方法
Method for measuring surface contamination of radioactive factory buildings
EJT20031-2012, EJ20031-2012
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- EJ/T 20031-2012
- 別名
- EJT20031-2012, EJ20031-2012
- 發(fā)布
- 2013年
- 總頁數(shù)
- 9頁
- 發(fā)布單位
- 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)
- 當(dāng)前最新
- EJ/T 20031-2012
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推薦
表面污染測量儀的刻度
為了精確測量總的表面活度，現(xiàn)場監(jiān)測儀器必須經(jīng)過適當(dāng)刻度。 刻度源應(yīng)選擇其發(fā)射的 α或β輻射與現(xiàn)場污染物預(yù)期的輻射能量相似。 最有代表性的刻度源要用現(xiàn)場被評(píng)估的放射性材料制備。 例如，鈾系和牡系衰變圖很復(fù)雜，發(fā)射 α，β和γ，儀器對(duì)每個(gè)單核素的刻度必需仔細(xì)評(píng)估，以確保探測器對(duì)這些衰變系的響應(yīng)...
表面污染的間接測量簡介
對(duì)于間接測量的擦拭樣品，應(yīng)該用很好屏蔽的固定測量裝置進(jìn)行測量。該裝置應(yīng)能測量低于規(guī)程限值的面活度。大多數(shù)設(shè)備能夠探測活度低于0. 4 Bq的α 污染，或低于4 Bq的β污染。對(duì)于覆蓋100 cm2的擦拭樣品（隱含去除因子F=O.1），測量非固定α 污染的面活度濃度可小于0.04 Bq ?cm 2...
表面污染的直接測量的方法介紹
用于直接測量的表面污染測量儀要能夠探測低于規(guī)程限值水平的污染。測量時(shí)，探測器要盡可能靠近表面移動(dòng)，一旦探測到污染，探測器應(yīng)在該區(qū)域定位測量足夠時(shí)間，以確認(rèn)污染水平。測量程序如下： ?。?）在一個(gè)有代表性的檢測區(qū)域測量本底計(jì)數(shù)率； （2）定期檢驗(yàn)本底計(jì)數(shù)率； ?。?）使用適當(dāng)?shù)臋z驗(yàn)源證明儀器工作...
表面污染測量的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換等相關(guān)介紹
1、表面污染測量的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換 在表面污染測量中，在計(jì)算單位面積的活度濃度時(shí)，測量面積應(yīng)用探測器的實(shí)際面積，而不是扣除保護(hù)屏幕面積后的有效面積。 要把以計(jì)數(shù)率為單位的儀器讀數(shù)轉(zhuǎn)換為表面活度濃度。 2、表面污染測量的探測靈敏度 測量系統(tǒng)的探測靈敏度是指用某些已知或估計(jì)的置信度測量或探測到的放射性...