IEC 62321-5:2013
電工制品中特定物質(zhì)的測(cè)定.第5部分:通過(guò)原子吸收分光光度法(AAS)、原子熒光光譜法(AFS)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜(ICP-OES)和電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)測(cè)定聚合物和電子中鎘、鉛和鉻及金屬中鎘和鉛

Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 5: Determination of cadmium, lead, and chromium in polymers and electronics and cadmium and lead in metals by AAS, AFS, ICP- OES and ICP-MS

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標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

IEC 62321-5:2013

發(fā)布

2013年

總頁(yè)數(shù)

80頁(yè)

中文版

GB/T 39560.5-2021 (等同采用的中文版本)

發(fā)布單位

國(guó)際電工委員會(huì)

當(dāng)前最新

IEC 62321-5:2013

 

 

被代替標(biāo)準(zhǔn)

IEC 111/297/FDIS:2013 IEC 62321:2008

適用范圍

IEC 62321的本部分描述了通過(guò)AAS@AFS@ICP-OES和ICP-MS對(duì)聚合物@金屬和電子產(chǎn)品中的鉛@鎘和鉻進(jìn)行測(cè)試的方法。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工產(chǎn)品中鎘（Cd）、鉛（Pb）、鉻（Cr）含量的測(cè)定。它涵蓋三種類(lèi)型的矩陣：聚合物/聚合物工件@金屬和合金以及電子產(chǎn)品。本標(biāo)準(zhǔn)將樣品作為待處理和測(cè)量的對(duì)象。樣本是什么或如何獲取樣本由進(jìn)行測(cè)試的實(shí)體定義。有關(guān)從成品電子產(chǎn)品中獲取代表性樣品以測(cè)試受管制物質(zhì)含量的進(jìn)一步指導(dǎo)，請(qǐng)參見(jiàn) IEC 62321-2。需要注意的是，樣本的選擇和/或確定可能會(huì)影響測(cè)試結(jié)果的解釋。本標(biāo)準(zhǔn)描述了四種方法@的使用，即AAS（原子吸收光譜法）@ AFS（原子熒光光譜法）@ ICP-OES（電感耦合等離子體發(fā)射光譜法）@和ICP-MS（電感耦合等離子體質(zhì)譜法）以及制備樣品溶液的幾種程序，專(zhuān)家可以從中選擇最合適的分析方法。由于聚合物和電子產(chǎn)品中的六價(jià)鉻分析有時(shí)很難確定，本標(biāo)準(zhǔn)介紹了除 AFS 之外的聚合物和電子產(chǎn)品中鉻的篩選方法。鉻分析提供有關(guān)材料中六價(jià)鉻存在的信息。然而@元素分析不能選擇性地檢測(cè)六價(jià)Cr；它確定樣品中所有氧化態(tài)的 Cr 含量。如果 Cr 含量超過(guò)六價(jià) Cr 限值，則應(yīng)進(jìn)行六價(jià) Cr 測(cè)試。本標(biāo)準(zhǔn)中描述的測(cè)試程序旨在為 Pb@Cd 和 Cr 的濃度提供最高水平的準(zhǔn)確度和精密度，在 ICPOES 和 AAS@ 的情況下，Pb@Cd 和 Cr@ 的范圍為 10 mg/kg。對(duì)于 ICP-MS@，Pb 和 Cd 的范圍為 0@1 mg/kg；對(duì)于 AFS@，范圍為 Pb 的 10 mg/kg 和 Cd 的 1.5 mg/kg。該程序不限于更高濃度。由于多氟聚合物的穩(wěn)定性，本標(biāo)準(zhǔn)不適用于含有多氟聚合物的材料。如果在分析過(guò)程中使用硫酸@，則存在失去 Pb@ 的風(fēng)險(xiǎn)，從而導(dǎo)致該分析物的值錯(cuò)誤地偏低。另外@硫酸和氫氟酸不適合AFS@測(cè)定Cd，因?yàn)樗鼤?huì)干擾Cd的還原。由于樣品的溶解步驟，可能會(huì)出現(xiàn)限制和風(fēng)險(xiǎn)，例如可能會(huì)出現(xiàn)目標(biāo)或其他元素的沉淀，在這種情況下，必須單獨(dú)檢查殘留物或通過(guò)其他方法溶解殘留物，然后與測(cè)試樣品溶液合并。

其他標(biāo)準(zhǔn)

專(zhuān)題

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