BS EN 61967-6:2002
集成電路.150kHz～1GHz電磁輻射的測量.磁性探測法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

BS EN 61967-6:2002

發(fā)布

2002年

總頁數(shù)

30頁

發(fā)布單位

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

BS EN 61967-6:2002+A1:2008

當(dāng)前最新

BS EN 61967-6:2002+A1:2008

 

 

適用范圍

IEC 61967 的這一部分規(guī)定了一種通過使用微型磁性探針進(jìn)行非接觸式電流測量來評估集成電路 (IC) 引腳上射頻電流的方法。 該方法能夠測量 IC 在 0.15 MHz 至 1 000 MHz 頻率范圍內(nèi)產(chǎn)生的 RF 電流。 該方法適用于在標(biāo)準(zhǔn)化測試板上對單個(gè)IC或IC芯片組進(jìn)行測量，以進(jìn)行表征和比較。 它還可用于評估實(shí)際應(yīng)用 PCB 上的一個(gè) IC 或一組 IC 的電磁特性，以達(dá)到減少排放的目的。 這種方法稱為“磁探針法”。

專題

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