ISO 17973:2002
表面化學(xué)分析.中分辨率螺旋電子光譜儀.元素分析用能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
Surface chemical analysis - Medium-resolution Auger electron spectrometers - Calibration of energy scales for elemental analysis
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- ISO 17973:2002
- 發(fā)布
- 2002年
- 中文版
- GB/T 29732-2013 (修改采用的中文版本)
- 發(fā)布單位
- 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 17973:2016
- 當(dāng)前最新
- ISO 17973:2024
- 適用范圍
- 本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了不確定度為 3 eV 的俄歇電子能譜儀動(dòng)能標(biāo)度的校準(zhǔn)方法，用于識(shí)別表面元素的一般分析用途。 此外，它還規(guī)定了建立校準(zhǔn)計(jì)劃的方法。 它適用于直接模式或差分模式下使用的儀器，其中分辨率小于或等于 0.5%，并且差分模式（如果使用）的調(diào)制幅度為 2 eV 峰峰值。 它適用于配備惰性氣體離子槍或其他樣品清潔方法以及能夠在4 keV或更高束流能量下工作的電子槍的光譜儀。
專題
ISO 17973:2002相似標(biāo)準(zhǔn)
KS D ISO 17974:2011 表面化學(xué)分析.高分辨率螺旋電子光譜儀.元素和化學(xué)狀態(tài)分析用能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
ISO 17974:2002 表面化學(xué)分析.高分辨率螺旋電子光譜儀.元素和化學(xué)狀態(tài)分析用能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
BS ISO 17974:2002 表面化學(xué)分析.高分辨率螺旋電子光譜儀.元素和化學(xué)狀態(tài)分析用能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
JIS K 0166:2011 表面化學(xué)分析.高分辨率螺旋電子光譜儀.元素和化學(xué)狀態(tài)分析用能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
ISO/CD 17973 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)