BS EN 61967-4:2002
集成電路.150kHz～1GHz電磁輻射的測量.第4部分:傳導輻射的測量.1ohm/150ohm直接耦合法

Integrated circuits — Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz — Part 4: Measurement of conducted emissions — 1 ohm/150 ohm direct coupling method

被代替

標準號

BS EN 61967-4:2002

發(fā)布

2002年

發(fā)布單位

英國標準學會

替代標準

BS EN 61967-4:2002+A1:2006

當前最新

BS EN 61967-4:2002+A1:2006

 

 

引用標準

CISPR 16-1-1 CISPR 16-1-2 CISPR 16-1-3 CISPR 16-1-4 CISPR 16-1-5 IEC 61000-4-6 IEC 61967-1

被代替標準

98/232942 DC-1998

適用范圍

IEC 61967 的這一部分規(guī)定了一種通過使用 1 Ω 電阻探頭直接測量射頻 (RF) 電流和使用 150 Ω 耦合網絡測量 RF 電壓來測量集成電路傳導電磁發(fā)射 (EME) 的方法。 這些方法保證了 EME 測量的高度可重復性和相關性。 IEC 61967-1 規(guī)定了測試方法的一般條件和定義。

BS EN 61967-4:2002相似標準