IEC 61967-6:2002
集成電路.150kHz-1GHz電磁輻射的測量.第6部分:傳導放射測量.磁探測器法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions; Magnetic probe method
- 標準號
- IEC 61967-6:2002
- 發(fā)布
- 2002年
- 總頁數(shù)
- 11頁
- 發(fā)布單位
- 國際電工委員會
- 替代標準
- IEC 61967-6:2008
- 當前最新
- IEC 61967-6:2002/COR1:2010
- 被代替標準
- IEC 47A/645/FDIS:2002
- 適用范圍
- 指定一種通過使用微型磁性探針進行非接觸式電流測量來評估集成電路 (IC) 引腳上射頻電流的方法。該方法能夠測量 IC 在某個頻率上產(chǎn)生的 RF 電流
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