IEC 61967-4:2002/AMD1:2006
修改件1.集成電路.150kHz-1GHz電磁輻射的測量.第4部分:1Ω/150Ω直接耦合法

Amendment 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 /150 direct coupling method

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號

IEC 61967-4:2002/AMD1:2006

發(fā)布

2006年

發(fā)布單位

國際電工委員會

替代標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61967-4:2002/COR1:2017

當(dāng)前最新

IEC 61967-4:2021 RLV

 

 

引用標(biāo)準(zhǔn)

CISPR 16-1-1 CISPR 16-1-2 CISPR 16-1-3 CISPR 16-1-4 CISPR 16-1-5

被代替標(biāo)準(zhǔn)

IEC 47A/735/FDIS:2005

適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)是修正案 1 - 集成電路 - 電磁輻射測量，150 kHz 至 1 GHz - 第 4 部分：傳導(dǎo)輻射測量 - 1 /150 直接耦合法。

IEC 61967-4:2002/AMD1:2006相似標(biāo)準(zhǔn)