GB/T 2423.1-2001
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A: 低溫

Environmental testing for electric and electronic products Part 2: Test methods Tests A: Cold

GBT2423.1-2001, GB2423.1-2001

被代替

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標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

GB/T 2423.1-2001

別名

GBT2423.1-2001, GB2423.1-2001

發(fā)布

2001年

總頁數(shù)

23頁

發(fā)布單位

國家質(zhì)檢總局

替代標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2008

當(dāng)前最新

GB/T 2423.1-2008

 

 

適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱兩類試驗(yàn)樣品。對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)Aa和Ab不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。 本標(biāo)準(zhǔn)僅限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品）在低溫環(huán)境條件下貯存和（或）使用的適應(yīng)性。 這一低溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品對(duì)溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這種情況下，應(yīng)當(dāng)采用試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法。 低溫試驗(yàn)方法分為以下三類： 非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：----試驗(yàn)Aa:溫度突變 ----試驗(yàn)Ab:溫度漸變 散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)： ----試驗(yàn)Ad:溫度漸變 本試驗(yàn)方法通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)開始計(jì)算的。在特殊情況下，如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定，則試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱（室）達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時(shí)開始計(jì)算。 相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定： a）試驗(yàn)箱（室）內(nèi)溫度變化速率； b）試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱（室）的時(shí)間； c）試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)條件下暴露試驗(yàn)開始的時(shí)間； d）試驗(yàn)樣品通電或加負(fù)載的時(shí)間。 在這些條件下，相關(guān)規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T 2424.1-1989導(dǎo)則選定以上4個(gè)參數(shù)（以上條件下的修訂正在考慮之中）。

GB/T 2423.1-2001 中可能用到的儀器設(shè)備

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