JIS K 0132:1997
掃描電子顯微鏡總則
General rules for scanning electron microscopy
- 標準號
- JIS K 0132:1997
- 發(fā)布
- 1997年
- 總頁數(shù)
- 48頁
- 發(fā)布單位
- 日本工業(yè)標準調(diào)查會
- 當前最新
- JIS K 0132:1997
- 適用范圍
- 本標準規(guī)定了使用掃描電子顯微鏡主要利用二次電子來觀察和分析樣品表面顯微區(qū)域形貌時的一般事項。
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專題
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