作廢
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試驗(yàn)方法》、GB/T 2423.6-1995 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞》、GB/T 2423.8-1995 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落》、GB/T 4857.5-1992《包裝 運(yùn)輸包裝件 跌落試驗(yàn)方法》等等。根據(jù)這些標(biāo)準(zhǔn)...
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