導(dǎo)讀顯微分析技術(shù)重要的設(shè)備包括：光學(xué)顯微鏡(OM)、雙束掃描電子顯微鏡(DB-FIB)、掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)。今天的文章將介紹DB-FIB的原理及應(yīng)用，重點介紹廣電計量DB-FIB的服務(wù)能力及DB-FIB應(yīng)用于半導(dǎo)體分析相關(guān)的案例。什么是DB-FIB雙束掃描電子顯微鏡...
掃描電子顯微鏡的探針——高能電子的性質(zhì)使其特別適合于檢查半導(dǎo)體材料的光學(xué)和電子特性。掃描電鏡電子束中的高能電子將把載流子注入半導(dǎo)體。因此，電子束中的電子通過使電子受激從價帶進入導(dǎo)帶而失去能量，留下空穴。 在直接帶隙材料中，這些電子-空穴對的復(fù)合將產(chǎn)生陰極射線發(fā)光；如果樣品含有內(nèi)部電場，如pn結(jié)...
隨著科學(xué)技術(shù)不斷進步，微束分析技術(shù)在材料、生命等領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。然而，不同實驗機構(gòu)之間的微束分析結(jié)果存在差異，給研究帶來諸多困擾。因此，通過推廣微束分析技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化的制定、修訂工作，不僅能提高科學(xué)實驗工作效率，還能促進技術(shù)發(fā)展和創(chuàng)新。電子顯微鏡作為最具代表性的微束分析儀器之一，可直接觀察納米級...
Copyright ?2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號 京公網(wǎng)安備1101085018 電信與信息服務(wù)業(yè)務(wù)經(jīng)營許可證：京ICP證110310號
頁面更新時間: 2024-09-17 23:25