ASTM F24-09
測(cè)量和計(jì)數(shù)表面微粒污染的標(biāo)準(zhǔn)方法

Standard Method for Measuring and Counting Particulate Contamination on Surfaces

作廢

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

ASTM F24-09

發(fā)布

2009年

發(fā)布單位

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM F24-09(2015)

當(dāng)前最新

ASTM F24-20

 

 

適用范圍

1.1 該測(cè)試方法涵蓋了小型電子設(shè)備組件表面或從其表面沖洗出來的 5 米或更大尺寸的顆粒污染物的尺寸分布分析。對(duì)于同一樣品的重復(fù)計(jì)數(shù)，預(yù)計(jì)最大變化為二比一（兩次運(yùn)行平均值的 33%）。
1.2 以 SI 單位表示的值應(yīng)被視為標(biāo)準(zhǔn)值。本標(biāo)準(zhǔn)不包含其他計(jì)量單位。

專題

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