BS ISO 20411:2018
表面化學分析 二次離子質(zhì)譜分析 單離子計數(shù)動態(tài)二次離子質(zhì)譜飽和強度校正方法

Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry

標準號

BS ISO 20411:2018

發(fā)布

2018年

發(fā)布單位

英國標準學會

當前最新

BS ISO 20411:2018

 

 

適用范圍

范圍 本文件規(guī)定了在脈沖計數(shù)磁扇形二次離子質(zhì)譜儀或四極二次離子質(zhì)譜儀中確定強度尺度線性可接受偏差極限的最大計數(shù)率的方法。它使用基于參考材料中兩種同位素深度剖面分析的測試，該參考材料在低濃度和高濃度范圍之間具有逐漸的濃度變化。它還包括對探測器死區(qū)時間引起的飽和強度的校正方法。校正可以增加 95% 線性度的強度范圍，以便對于相關(guān)校正方程已被證明有效的那些光譜儀可以采用更高的最大計數(shù)率。本文件不適用于飛行時間質(zhì)譜儀。本文件僅適用于含有少量同位素的元素。如果元素是單一同位素或含有相同豐度的同位素，則不適用。

專題

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