BS ISO 13084:2018
表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜分析 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀的質(zhì)量標(biāo)度校準(zhǔn)

Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

BS ISO 13084:2018

發(fā)布

2018年

發(fā)布單位

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)

當(dāng)前最新

BS ISO 13084:2018

 

 

適用范圍

這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)是關(guān)于什么的？本文件規(guī)定了一種優(yōu)化用于一般分析目的的飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜 (SIMS) 儀器質(zhì)量校準(zhǔn)精度的方法。它僅適用于飛行時(shí)間儀器，但不限于任何特定的儀器設(shè)計(jì)。為可以使用此程序優(yōu)化的一些儀器參數(shù)以及適合校準(zhǔn)質(zhì)量標(biāo)度以獲得最佳質(zhì)量精度的通用峰類型提供了指導(dǎo)

專題

BS ISO 13084:2018相似標(biāo)準(zhǔn)

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