術(shù)語(yǔ) | 描述 |
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紅外熱像檢測(cè) Infrared Thermography Inspection | 利用紅外熱像儀檢測(cè)物體表面溫度分布差異的方法。 |
缺陷 Defects | 材料或結(jié)構(gòu)中的不連續(xù)性或異常,可能導(dǎo)致性能下降或安全風(fēng)險(xiǎn)。 |
紅外熱像儀 滿足工作波段中紅外到遠(yuǎn)紅外,噪聲等效溫度差不大于100 mK。 | 用于探測(cè)和記錄物體表面溫場(chǎng)變化的檢測(cè)設(shè)備。 |
閃光燈激勵(lì)裝置 單次加熱能量不小于5 kJ,脈沖寬度不大于20 ms。 | 用于快速加熱物體表面以激發(fā)熱響應(yīng)的設(shè)備。 |
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