BS CECC 13:1985(1999)
電子元件質(zhì)量評(píng)估協(xié)調(diào)制度：基本規(guī)范：半導(dǎo)體芯片的掃描電子顯微鏡檢查
Harmonized system of quality assessment for electronic components : Basic specification : Scanning electron microscope inspection of semiconductor dice
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- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- BS CECC 13:1985(1999)
- 發(fā)布
- 1970年
- 發(fā)布單位
- 英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
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