側(cè)向力顯微鏡(Lateral force Microscope, LFM)LFM 的作用方式主要是使探針與樣品表面相接觸并在表面上平移，利用探針移動時所承受樣品表面摩擦力以及樣品表面高低起伏造成懸臂的偏斜量來探知樣品的材質(zhì)與表面特性。圖6 的樣品是在硅表面放置的單層Langmuir-Blod...
原子力顯微鏡（AFM）是掃描探針顯微鏡（SPM）的一種。SPM也包括STM等?？蓞⒖础斗肿邮中g(shù)與納米診療：納米生物學(xué)及其應(yīng)用...
原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱AFM），也稱掃描力顯微鏡（scanning force microscope，SFM）是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡，優(yōu)于光學(xué)衍射極限1000倍。原子力顯微鏡的前身是掃描隧道顯微鏡，是由IBM蘇黎士研究實驗室的海因里希·羅雷...
1. cantilever based probe 用于原子力顯微鏡（AFM）。由于原子間作用力無法直接測量，AFM使用的探針是一個附著在有彈性的懸臂上的小針尖，懸臂另一面可以反射激光?！ ‰S著針尖移動，針尖和樣品表面的作用力使得懸臂發(fā)生細(xì)微的彎曲變化，導(dǎo)致激光反射路徑的變化，從而獲得樣品表面...
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