復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司掃描電鏡SEM參數(shù)
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型號(hào) 飛納Phenom Pro高分辨率專(zhuān)業(yè)版中文簡(jiǎn)稱(chēng) 臺(tái)式掃描電子顯微鏡英文簡(jiǎn)稱(chēng) SEM產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2011年11月30日

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型號(hào) 飛納Phenom ProX中文簡(jiǎn)稱(chēng) 掃描電鏡電鏡能譜一體機(jī)英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom ProX SEM產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2014年12月22日

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型號(hào) Phenom XL G2大樣品室卓越版中文簡(jiǎn)稱(chēng) 臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版Phenom XL G2英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom XL G2 Desktop scanning electron microscope large sample room version產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2020年

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型號(hào) 飛納Phenom Pure中文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom臺(tái)式掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)版Pure英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom Pure SEM產(chǎn)地 歐洲上市時(shí)間 2020年

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型號(hào) 飛納Phenom GSR中文簡(jiǎn)稱(chēng) 飛納電鏡槍擊殘留物分析(GSR)英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom GSR SEM產(chǎn)地 歐洲上市時(shí)間 2016年

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型號(hào) Phenom LE中文簡(jiǎn)稱(chēng) 飛納臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 Phenom LE英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom LE產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2018年05月

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型號(hào) ParticleX 鋰電分析中文簡(jiǎn)稱(chēng) ParticleX 全自動(dòng)鋰電正負(fù)極雜質(zhì)分析系統(tǒng)英文簡(jiǎn)稱(chēng) ParticleX Full automatic lithium battery anode and cathode impurity analysis system產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2020年

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型號(hào) ParticleX中文簡(jiǎn)稱(chēng) ParticleX 全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng)英文簡(jiǎn)稱(chēng) ParticleX Full automatic particle analysis system產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2020年

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型號(hào) Phenom Pro_1中文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom 飛納金屬金相領(lǐng)域掃描電子顯微鏡英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom Pro_1 SEM產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2020年

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型號(hào) Phenom Pro_2中文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom 飛納生物領(lǐng)域掃描電子顯微鏡英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom Pro_2 SEM產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2020年

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型號(hào) Phenom Pro_3中文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom 飛納高分子膜領(lǐng)域掃描電子顯微鏡英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom Pro_3 SEM產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2014年10月22日

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型號(hào) Phenom Pro_4中文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom 飛納地質(zhì)領(lǐng)域掃描電子顯微鏡英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom Pro_4 SEM產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2020年

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型號(hào) Phenom Pro_5中文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom 飛納電池領(lǐng)域掃描電子顯微鏡英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom Pro_5 SEM產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2020年

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型號(hào) Phenom Pro_6石油煤炭中文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom Pro 石油煤炭領(lǐng)域掃描電子顯微鏡英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom Pro_6 SEM產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2015年3月12日

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型號(hào) Delphi CLEM中文簡(jiǎn)稱(chēng) 飛納臺(tái)式光電關(guān)聯(lián)顯微鏡Delphi CLEM英文簡(jiǎn)稱(chēng) Delphi CLEM SEM產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2017年3月22日

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型號(hào) Phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡中文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom SEM產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2016年11月

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型號(hào) ProX Particle Metric中文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom Particle Metric顆粒測(cè)試英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom Particle Metric產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2017年3月22日

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型號(hào) DiatomScope中文簡(jiǎn)稱(chēng) 自動(dòng)硅藻檢驗(yàn) DiatomScope英文簡(jiǎn)稱(chēng) DiatomScope Automatic diatom test產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2018年05月

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型號(hào) 高性?xún)r(jià)比標(biāo)準(zhǔn)版 Pure中文簡(jiǎn)稱(chēng) 高性?xún)r(jià)比掃描電鏡Phenom Pure英文簡(jiǎn)稱(chēng) 高性?xún)r(jià)比標(biāo)準(zhǔn)版 Pure產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2020年

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型號(hào) 高分辨率專(zhuān)業(yè)版 Pro中文簡(jiǎn)稱(chēng) 飛納臺(tái)式掃描電鏡Phenom Pro英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom Pro professional SEM產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2014年12月22日

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型號(hào) Phenom Pharos G2中文簡(jiǎn)稱(chēng) 飛納臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 Phenom Pharos G2英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom Pharos G2 SEM產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2019年7月2日

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型號(hào) Phenom Pharos G1中文簡(jiǎn)稱(chēng) 飛納臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 Phenom Pharos G1英文簡(jiǎn)稱(chēng) Phenom Pharos G1產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2019年12月4日

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型號(hào) ParticleX 汽車(chē)清潔度中文簡(jiǎn)稱(chēng) ParticleX 汽車(chē)清潔度分析系統(tǒng)英文簡(jiǎn)稱(chēng) ParticleX Automobile cleanliness analysis system產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2019年10月

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型號(hào) ParticleX 鋼鐵夾雜物中文簡(jiǎn)稱(chēng) ParticleX 鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)英文簡(jiǎn)稱(chēng) ParticleX Steel inclusion analysis system產(chǎn)地 荷蘭上市時(shí)間 2019年10月

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型號(hào) Apreo 2 SEM中文簡(jiǎn)稱(chēng) Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡英文簡(jiǎn)稱(chēng) Apreo 2 SEM Scanning Electron Microscope產(chǎn)地 捷克上市時(shí)間 2014年

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型號(hào) Axia ChemiSEM中文簡(jiǎn)稱(chēng) 賽默飛(原FEI)Axia ChemiSEM 智能型鎢燈絲掃描電鏡英文簡(jiǎn)稱(chēng) Axia ChemiSEM Scanning Electron Microscope產(chǎn)地 捷克上市時(shí)間 2013年4月5日
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掃描電鏡SEM儀器參數(shù)
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司儀器價(jià)格
- 復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司掃描電鏡SEM價(jià)格
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