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二次離子質(zhì)譜+sims

本專題涉及二次離子質(zhì)譜+sims的標準有7條。

國際標準分類中，二次離子質(zhì)譜+sims涉及到分析化學(xué)。

在中國標準分類中，二次離子質(zhì)譜+sims涉及到基礎(chǔ)標準與通用方法、光學(xué)計量儀器。

美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于二次離子質(zhì)譜+sims的標準

• ASTM E1635-95(2000) 二次離子質(zhì)譜（SIMS）中成像數(shù)據(jù)報告的標準實施規(guī)程
• ASTM E1635-06(2019) 二次離子質(zhì)譜（SIMS）中成像數(shù)據(jù)報告的標準實施規(guī)程
• ASTM E1162-87(2001) 二次離子質(zhì)譜法(SIMS)中報告濺射深度截面數(shù)據(jù)
• ASTM E1162-87(1996) 二次離子質(zhì)譜法(SIMS)中報告濺射深度截面數(shù)據(jù)
• ASTM E1504-11(2019) 二次離子質(zhì)譜法（SIMS）中質(zhì)譜數(shù)據(jù)報告的標準實施規(guī)程
• ASTM E1162-11(2019) 二次離子質(zhì)譜法（SIMS）中濺射深度剖面數(shù)據(jù)報告的標準實施規(guī)程

日本工業(yè)標準調(diào)查會，關(guān)于二次離子質(zhì)譜+sims的標準

• JIS K 0169:2012 表面化學(xué)分析.二次離子質(zhì)譜(SIMS).帶多重亞鉛層對照物的深度分辨率參數(shù)估算方法

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可能用到的儀器設(shè)備