掃描開爾文探針顯微鏡 .
本專題涉及掃描開爾文探針顯微鏡 .的標(biāo)準(zhǔn)有27條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，掃描開爾文探針顯微鏡 .涉及到分析化學(xué)、光學(xué)和光學(xué)測量、詞匯、教育、有色金屬、長度和角度測量、光學(xué)設(shè)備。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，掃描開爾文探針顯微鏡 .涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、光學(xué)計量、教學(xué)專用儀器、化學(xué)、放大鏡與顯微鏡、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、稀有金屬及其合金分析方法。
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于掃描開爾文探針顯微鏡 .的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 36052-2018 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡數(shù)據(jù)傳送格式
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于掃描開爾文探針顯微鏡 .的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 29190-2012 掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于掃描開爾文探針顯微鏡 .的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 18115-2:2021 表面化學(xué)分析詞匯第2部分:掃描探針顯微鏡術(shù)語
- ISO 21222:2020 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用原子力顯微鏡和兩點JKR法測定柔順材料彈性模量的程序
- ISO 11952:2019 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用SPM測定幾何量:測量系統(tǒng)的校準(zhǔn)
- ISO 11775:2015 表面化學(xué)分析. 掃描探針顯微鏡. 普通懸臂彈簧常數(shù)的測定
- ISO 11952:2014 表面化學(xué)分析. 掃描探針顯微鏡. 使用SPM測定幾何量:測量系統(tǒng)校準(zhǔn)
- ISO 18115-2:2013 表面化學(xué)分析.詞匯表.第2部分:掃描-探針顯微鏡檢查中應(yīng)用的術(shù)語
- ISO 11039:2012 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.漂移率的測定標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 27911:2011 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.近場光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義與校準(zhǔn)
- ISO 28600:2011 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡檢查用數(shù)據(jù)傳送格式
- ISO 18115-2:2010 表面化學(xué)分析.詞匯.第2部分:掃描探針顯微鏡檢查中使用的術(shù)語
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于掃描開爾文探針顯微鏡 .的標(biāo)準(zhǔn)
- JY/T 0582-2020 掃描探針顯微鏡分析方法通則
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于掃描開爾文探針顯微鏡 .的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K0147-2-2017 表面化學(xué)分析. 詞匯. 第2部分: 掃描探針顯微鏡用術(shù)語
，關(guān)于掃描開爾文探針顯微鏡 .的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST R ISO 27911:2015 確保測量一致性的國家系統(tǒng). 表面化學(xué)分析. 掃描探針顯微鏡. 近場光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義和校準(zhǔn)
- GOST R 8.700-2010 確保測量一致性的國家體系.利用原子力掃描探針顯微鏡進行測量的表面粗糙度效果測高法
- GOST 8.593-2009 國家測量統(tǒng)一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.鑒定方法
- GOST R 8.635-2007 國家測量統(tǒng)一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.校準(zhǔn)方法
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于掃描開爾文探針顯微鏡 .的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 11775:2015 表面化學(xué)分析. 掃描探針顯微鏡. 普通懸臂彈簧常數(shù)的測定
- BS ISO 18115-2:2013 表面化學(xué)分析. 詞匯. 掃描探針顯微鏡用術(shù)語
- BS ISO 27911:2011 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.近場光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義和校準(zhǔn)
- BS ISO 28600:2011 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡的數(shù)據(jù)傳送格式
- BS ISO 18115-2:2010 表面化學(xué)分析.詞匯表.掃描-探針顯微鏡檢查中應(yīng)用的術(shù)語
國家計量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于掃描開爾文探針顯微鏡 .的標(biāo)準(zhǔn)
- JJF 1351-2012 掃描探針顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于掃描開爾文探針顯微鏡 .的標(biāo)準(zhǔn)
- NF X21-069-2-2010 表面化學(xué)分析.詞匯.第2部分:掃描探針顯微鏡用術(shù)語.
韓國標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于掃描開爾文探針顯微鏡 .的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D 2714-2006 掃描探針顯微鏡.橫向剪切力的測量方法
