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俄歇電子能譜 x射線能譜

本專題涉及俄歇電子能譜 x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)有20條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，俄歇電子能譜 x射線能譜涉及到無損檢測(cè)、分析化學(xué)、電子元器件綜合、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，俄歇電子能譜 x射線能譜涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、標(biāo)準(zhǔn)化、質(zhì)量管理、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、綜合測(cè)試系統(tǒng)。

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于俄歇電子能譜 x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM E996-10(2018) 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
• ASTM E996-19 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
• ASTM E995-11 在俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中應(yīng)用背景消除技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E1217-11(2019) 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測(cè)到的信號(hào)的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于俄歇電子能譜 x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 28632-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測(cè)定
• GB/T 31470-2015 俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測(cè)試中確定檢測(cè)信號(hào)對(duì)應(yīng)樣品區(qū)域的通則
• GB/T 28893-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.測(cè)定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息
• GB/T 29556-2013 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測(cè)到的樣品面積的測(cè)定
• GB/T 30702-2014 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實(shí)驗(yàn)測(cè)定的相對(duì)靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于俄歇電子能譜 x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)

• BS ISO 18516:2006(2010) 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率的測(cè)定

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于俄歇電子能譜 x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)

• SJ/T 10458-1993 俄歇電子能譜術(shù)和X射線光電子能譜術(shù)的樣品處理標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則

韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于俄歇電子能譜 x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)

• KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測(cè)定
• KS D ISO 19319:2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)
• KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜均勻材料定量分析用實(shí)驗(yàn)測(cè)定的相對(duì)靈敏度因子的使用指南

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于俄歇電子能譜 x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)

• BS ISO 20903:2019 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰值強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果時(shí)所需的信息
• BS ISO 18118:2015 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實(shí)驗(yàn)確定的相對(duì)靈敏度因子進(jìn)行均質(zhì)材料定量分析的指南
• 23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實(shí)驗(yàn)確定的相對(duì)靈敏度因子進(jìn)行均質(zhì)材料定量分析的指南

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于俄歇電子能譜 x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)

• ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)
• ISO/DIS 18118:2023 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜 使用實(shí)驗(yàn)確定的相對(duì)靈敏度因子進(jìn)行均質(zhì)材料定量分析的指南
• ISO/FDIS 18118:2023 表面化學(xué)分析 - 俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜 - 使用實(shí)驗(yàn)確定的相對(duì)靈敏度因子進(jìn)行均質(zhì)材料定量分析的指南

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可能用到的儀器設(shè)備