廣角XRD和小角XRD的區(qū)別
XRD是X射線衍射儀的簡稱。其基本原理是:當(dāng)X射線照射所測物質(zhì)（晶體），相應(yīng)晶面會產(chǎn)生衍射強(qiáng)度。隨著發(fā)射X射線的轉(zhuǎn)軸移動，不同角度的不同晶面會被完全掃描出來。從而根據(jù)布拉格方程2d sinθ=nλ，呈現(xiàn)出圖譜。廣角XRD一般指3°~80°，甚至是更高的度數(shù)，一般用來判斷某種材料的物相，即是什么物質(zhì)。而小角XRD一般是指0°~3°的測試范圍，在該范圍內(nèi)對應(yīng)的晶面一般是層間，即（00X）晶面，一般用來比較改性物質(zhì)前后該晶面的層間距變化。
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