TXRF全反射X射線熒光光譜儀快速多元素痕量分析可對(duì)固體、粉末、液體、懸浮物、過(guò)濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U。

　　需要樣品量少，液體及懸浮物樣品1-50微升，粉末樣品10微克以內(nèi)。

　　便攜式全反射熒光儀，設(shè)備小巧，一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，不需要任何輔助設(shè)備及氣體、液氮等，可拿到現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行分析。

　　1位及25位全自動(dòng)進(jìn)樣器兩款設(shè)計(jì)，分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動(dòng)分析。

　　第四代XFlash?SDD硅漂移探測(cè)器，采用帕爾貼冷卻技術(shù)，不需要液氮，沒有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。

　　由于全反射無(wú)背景，熒光強(qiáng)度與元素含量直接成正比。標(biāo)準(zhǔn)曲線工廠已校準(zhǔn)好，用戶不需要標(biāo)樣就可以進(jìn)行定量分析。