Nicomp 380納米粒徑分析儀原理
動(dòng)態(tài)光散射原理
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Nicomp?380納米粒徑分析儀采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic?Light?Scattering,?DLS）原理來獲得范圍在0.3?nm到10μm的膠體體系的粒度分布。DLS是通過一定波長的聚焦激光束照射在懸浮于樣品溶液的粒子上面，從而產(chǎn)生很多的散射光波。這些光波會(huì)互相干涉從而影響散射強(qiáng)度，散射強(qiáng)度隨時(shí)間不斷波動(dòng)，二者之間形成一定的函數(shù)關(guān)系。粒子的擴(kuò)散現(xiàn)象（或布朗運(yùn)動(dòng)）導(dǎo)致光強(qiáng)不斷波動(dòng)。光強(qiáng)的變化可以通過探測器檢測得到。使用自相關(guān)器分析隨時(shí)間而變的光強(qiáng)波動(dòng)就可以得到粒度分布系數(shù)（Particle?size?distribution,?PSD）。單一粒徑分布的自相關(guān)函數(shù)是一個(gè)指數(shù)衰減函數(shù)，由此可以很容易通過衰減時(shí)間計(jì)算得到粒子擴(kuò)散率。最終，粒子的半徑可以很容易地通過斯托克斯（Stokes-Einstein）方程式計(jì)算得到。
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如下是Nicomp?380納米粒徑分析儀的檢測原理簡圖：
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大部分樣品一般都不均勻，往往會(huì)呈現(xiàn)多分散體系狀態(tài)，即測出來的粒徑正態(tài)分布范圍會(huì)比較大，直觀的呈現(xiàn)是粒徑分布峰比較寬。自相關(guān)函數(shù)是由多組指數(shù)衰減函數(shù)綜合組成，每一個(gè)指數(shù)衰減函數(shù)都會(huì)因指數(shù)衰減時(shí)間不同而存在差異，此時(shí)計(jì)算自相關(guān)函數(shù)就變得不再簡單。
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Nicomp?380納米粒徑分析儀巧妙運(yùn)用了去卷積算法來轉(zhuǎn)化原始數(shù)據(jù)，從而得出最接近真實(shí)值的粒度分布。Nicomp?尤其適合測試粒度分布復(fù)雜的樣品體系，利用一組獨(dú)特的去卷積算法將簡單的高斯正態(tài)分布模擬成高分辨率的多峰分布模式，這種去卷積分析方法，即得到PSS粒度儀公司獨(dú)有的粒徑分布表達(dá)方法——Nicomp分布（Nicomp?Distribution）。
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有些儀器的高斯分析模式可以使用基線調(diào)整參數(shù)的功能，以此來補(bǔ)償測試環(huán)境太臟而超出儀器靈敏度的問題。高斯分析模式也可以允許使用者指定“固體重量模式”或者“囊泡重量模式”來分析帶有小囊泡的膠體體系，比如脂質(zhì)體。
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Nicomp分析方法是一種ZL的高分辨率的去卷積算法，它首次在1990年提出并應(yīng)用于分析和統(tǒng)計(jì)粒徑分布。在歷史上已經(jīng)證明Nicomp分析方法能夠精確分析非常復(fù)雜的雙峰樣品分散體系（比如?2：1比例），甚至是三峰樣品分散體系。在科學(xué)研究中，找到粒子聚集分布的雜峰是非常有用的。
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