色散型與能量型x射線光譜儀各有什么優(yōu)缺點
一、X一射線熒光分析儀(XRF)簡介
X一射線熒光分析儀(XRF)是一種較新型的可以對多元眾進(jìn)行快速同時側(cè)定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線(即X一熒光).波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩
個物理I.波長色徽型X射線熒光光諾儀(WD-XRF)是用晶體分光而后由探側(cè)移接收經(jīng)過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和控側(cè)器作同步運動.不斷地改變衍射角.便可獲得祥品內(nèi)各種無索所產(chǎn)生的特征X射線的波長及各個彼長X射線的強(qiáng)度.可以據(jù)此進(jìn)行定性分析和定I分析.該種儀器產(chǎn)生于4年代，由于可以對復(fù)雜體系進(jìn)行多組分同時側(cè)定.受到硯注.特別在地質(zhì)部門，先后配工了這種儀器.分析邃度顯著提高，起了I要作用。隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，在60年代初發(fā)明了半導(dǎo)體探洲器以后，對X一炙光進(jìn)行能譜分析成為可能。能譜色散皿R射線熒光光譜儀(ED-XRF).用X射線管產(chǎn)生原級X射線服射到樣品上，所產(chǎn)生的特征X射線(熒光)直接進(jìn)入Si (Li)探側(cè)器，便可以據(jù)此進(jìn)行定性分析和定f分析.第一臺ED-XRF是iIL1年問世的.近幾年來.由于商品ED-XRF儀器及計算機(jī)軟件的發(fā)展，功能完普，應(yīng)用領(lǐng)城拓寬，其特點、優(yōu)越性日益受到認(rèn)識，發(fā)展迅猛.
二、波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀的區(qū)別
雖然故長色傲型(ED-XRF)X射線熒光光滋儀與能I色徽M (ED-XRF) X射線熒光光譜儀同月于x射線熒光分析儀，它們產(chǎn)生信號的方法相同，最后得到的波譜或能譜也極為相似.但由于采集數(shù)據(jù)的方式不同，WD-XRF(波譜)與WD-XRF(能譜)在原理和儀器結(jié)構(gòu)上有所不同，功能也有區(qū)別。
