XRD小角衍射與普通XRD的區(qū)別
一、指代不同
1、小角衍射：利用電子顯微鏡中聚焦的電子束照射 樣品，電子在原子的靜電場作用下發(fā)生散射。
2、XRD：通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。
二、特點不同
1、小角衍射：消除反射、折射 和二次散射后，經放大得到試樣的高分散衍射。
2、XRD：用于確定晶體結構。其中晶體結構導致入射X射線束衍射到許多特定方向。 通過測量這些衍射光束的角度和強度，晶體學家可以產生晶體內電子密度的三維圖像。 根據(jù)該電子密度，可以確定晶體中原子的平均位置，以及它們的化學鍵和各種其他信息。
三、用處不同
1、小角衍射：主要用于高分子物質的結構分析。
2、XRD：已經成為研究晶體物質和某些非晶態(tài)物質微觀結構的有效方法。
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