透射電子顯微鏡（TEM）的工作原理
工作原理
透射電鏡和掃描電鏡一樣，利用聚焦電子束作為照明源，不同的是，透射電鏡是以透射電子為成像信號(hào)，而掃描電鏡是以二次電子、背散射電子等為成像信號(hào)（如下圖所示）。
由于透射電鏡樣品需要很薄，大部分電子會(huì)穿透樣品，其強(qiáng)度分布與所觀察樣品的形貌、組織、結(jié)構(gòu)一一對(duì)應(yīng)。透過樣品后的電子束經(jīng)物鏡匯聚調(diào)焦和初級(jí)放大后，電子束進(jìn)入下級(jí)的中間透鏡和第1、第2投影鏡進(jìn)行綜合放大成像，最終被放大的電子像投射在觀察室內(nèi)的熒光屏板供使用者觀察。圖像的明暗與樣品的原子序數(shù)、電子密度、厚度等相關(guān)。
透射電鏡按照加速電壓分類，可分為低壓透射電鏡（＜200KV），高壓透射電鏡（200~400KV）和超高壓透射電鏡（＞400KV）。按照分辨率可分為低分辨率和高分辨率透射電鏡。
為了方便對(duì)透射電鏡與掃描電鏡的結(jié)構(gòu)比較，大家可參考下面這個(gè)簡(jiǎn)略圖（其中，樣品位置不同是很大的不同點(diǎn)）。
透射電鏡和掃描電鏡在分辨力和焦點(diǎn)深度等方面也是不同的（如下圖所示）。
推薦
熱點(diǎn)排行
一周推薦
