X射線熒光光譜儀初級濾光片簡介
當(dāng)需要分析痕量元素時，X射線光管產(chǎn)生的連續(xù)譜被輕基體強烈散射，在痕量元素的譜峰附近產(chǎn)生高背景，嚴重干擾測定。解決方法之一是在X射線光管和樣品之間的光路中插入一塊金屬濾光片，利用濾光片的吸收特性消除或降低X射線光管發(fā)射的原級X射線譜，尤其是消除靶材特征X射線譜和雜質(zhì)線對待測元素的干擾，提高分析靈敏度和準確度。加入鋁濾光片后降低輕基體樣品的背景；圖10所示，加入不同規(guī)格的鋁、銅濾光片，抑制了靶材Rh的譜線。
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