掃描電鏡主要用于觀察哪些方面？
掃描電子顯微鏡（SEM）是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)。掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。
從原理上講，掃描電鏡是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。
掃描電鏡可以直接觀察觀察納米材料，進行材料斷口的分析，直接觀察原始表面等。
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掃描電子顯微鏡（SEM）是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)。掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。
從原理上講，掃描電鏡是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。
掃描電鏡可以直接觀察觀察納米材料，進行材料斷口的分析，直接觀察原始表面等。
