掃描電鏡主要用于觀察哪些材料？原理是什么？
掃描電子顯微鏡（SEM）發(fā)明于1965年，是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)。掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
從原理上講，掃描電鏡是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。
掃描電鏡具有以下優(yōu)點：
?、儆休^高的放大倍數(shù)，20-200000倍之間連續(xù)可調；
?、谟泻艽蟮木吧?，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；
?、墼嚇又苽浜唵?。
目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析（即SEM-EDS）。
掃描電鏡可以直接觀察觀察納米材料，進行材料斷口的分析，直接觀察原始表面等。
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